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导电粒子检测解决方案

发表时间:2021-12-09 09:46作者:星辰光学

导电粒子检测解决方法

TFT-LCD压痕导电粒子检测

一、工作环境

大家采用的电脑绝大多数全是TFT-LCD显示屏。在T-LCD屏的生产过程有一系列的生产流程下面的图(a)是激光切割好的F-CD显示屏,并未联接外界电源电路: (b) 是光耦电路IC: (c) 是线排FPC.外界电源电路联接方式是根据将屏风与电源电路指向,随后充压、加温将光耦电路和线排上的管脚抑制到夹层玻璃上。

在电源电路抑制全过程中会造成突起的导电球压痕颗粒物(如下图所示)路连通性越好。

在生产过程中,因为加工工艺操纵存有偏差,通常会导电粒F不足显著,从而造成不合格商品。

导电粒子压榨印痕的模样和尺寸是依照压榨水平变动,用压痕一般光学显微镜能看阳刻和阴刻的不同可以测量压力差水平。一切正常被压榨的导电粒子印痕是会显著看得出阳刻和阴刻,可是较为经伟或是太过压榨的导电粒子印痕是不容易显著看得出阳刻和阴刻。DIC全微分干涉光学显微镜超清HDMI 200万清晰度数码科技三维成像系统软件,可以高倍检测TFT触摸显示屏ITO上导电粒子压合及总数。

检测要求:

对TFT触摸显示屏ITO上导电粒子压合及总数开展检测。

检测难度系数:

压痕过浅、高倍检测不足清楚

XC-40.jpg

案例效果图:

DIC微分干涉显微镜

广泛应用于:

各大液晶面板生产企业 液晶面板工艺研究部门液晶面板

QA部门

手机、数码相机面板生产企业.


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